傳統(tǒng)的示波器一般只有4個通道，在調(diào)試電路時會出現(xiàn)很多瓶頸。例如，即使調(diào)試簡單的8位單片機電路，也無法時間相關(guān)地同時觀察數(shù)模轉(zhuǎn)換器的輸出和多路IO信號，如果分時測試，則對偶發(fā)故障毫無辦法；出現(xiàn)故障時，要了解故障是否是在單片機或內(nèi)存芯片特定時候產(chǎn)生的，因為沒有足夠的通道連到被測系統(tǒng)的控制信號上，無法知道故障產(chǎn)生時控制信號處于何種狀態(tài)；而在使用了FPGA的電路中，不僅測試管腳多，而且其內(nèi)部節(jié)點更多，要驗證其內(nèi)部節(jié)點的狀態(tài)，僅使用廠家提供的內(nèi)部邏輯分析儀或JTAG調(diào)試工具是不夠的，因為那樣無法看到信號時序信息或信號完整性問題。除了通道數(shù)不夠，示波器本底噪聲過大，ADC分辨率和動態(tài)范圍不夠；高帶寬示波器往往只兼顧高速信號的測試；沒有和示波器相匹配的多通道邏輯時序測試探頭，沒有的頻譜分析儀選件以及協(xié)議分析選件等都是傳統(tǒng)示波器面臨的問題。




一般而言，測量混頻器的幅度，相位和群時延響應特性要求網(wǎng)絡分析儀外接本振。然而，在系統(tǒng)中，本振可能內(nèi)置在被測的變頻器件中，網(wǎng)絡分析儀無法連接。此外，之前的測量方法也假定參考混頻器必須采用和被測混頻器相同的本振來驅(qū)動；如果網(wǎng)絡分析儀內(nèi)置本振的話就不用了。利用內(nèi)置的本振源，安捷倫公司PNA微波網(wǎng)絡分析儀新增的內(nèi)嵌本振測量功能可以讓用戶準確地測量被測混頻器的相對相位和群時延響應，而不用外接參考本振信號。簡單的兩步校準讓用戶把更多的時間花在測量器件上。測試條件得到優(yōu)化可以程度地測量元器件，同時不降低測量質(zhì)量。

要嚴格考慮探頭各指標對測試電路和示波器測試系統(tǒng)的影響，示波器探頭的開發(fā)生產(chǎn)總體考慮測試系統(tǒng)的精度，設計探頭和示波器的匹配。其中有幾個非常重要的方面。

帶寬：對于示波器這樣的測試系統(tǒng)，示波器和探頭的帶寬決定了系統(tǒng)的測試帶寬。因此，帶寬對探頭也是非常重要的指標，是測試多快信號的能力表征。

電阻：由于探頭的引入會導致整個測試環(huán)路的電阻變化，電壓信號測試的原理表明電阻變化會影響信號幅度值的測試。

電容器：信號頻率轉(zhuǎn)換速度增加時阻抗的容量元件占主導地位。電容性負載成為一個越發(fā)顯著的問題，特別是電容性負載會影響快速轉(zhuǎn)換波形的升降時間測試。